ムラタ、自動認識展でRFID用いた検品デモ

イベント村田製作所は27日、東京ビッグサイトで9月12日から14日に開催される「第20回自動認識総合展」に出展すると発表した。

ブースでは、RFIDを使った棚卸・検品作業を省力化させるソリューションや、ICタグを内蔵した商品トレーサビリティ管理などについて紹介する。

同社の提供するRFID活用の棚卸・検品システムは、独自のRFIDミドルウェアを経由してハードウェアを制御するため、顧客の基幹システムに大幅な変更を加えることなくシステムの導入が容易になる。同社ブースではハンディリーダーを用いたデモを行う。

また、商品トレーサビリティ管理は、ICタグを商品に内蔵することで個体管理を可能にし、製品が販売された以降でも製造情報や流通経路などを読み出すことができる。ブースではサングラスや指輪にICタグを内蔵したデモを実施する。

■村田製作所の自動認識総合展特設サイト
https://www.murata.com/ja-jp/campaign/events/japan/autoid_expo